Etude préliminaire de stabilité de défauts ponctuels dans la surface de silicium
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Date
2016-06-09
Authors
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Publisher
Université Mohamed BOUDIAF de M'Sila
Abstract
Nous réalisons dans ce travail une étude préliminaire de stabilité de défauts
ponctuels dans la surface de silicium en utilisant le programme VASP (Vienne Ab initio
Simulation Package)
Les résultats présentés dans ce travail peuvent servir de base à des travaux futurs sur
l’étude des propriétés des matériaux à base de silicium.
Abstract
Description
Keywords
silicium, (DFT), Hartree-Fock