Diagnostic intelligente d’un Filtre Actif Parallèle pour un défaut circuit ouverte d’IGBT
| dc.contributor.author | BAKHTI, Karima | |
| dc.contributor.author | HADDED, Meriem | |
| dc.date.accessioned | 2020-12-17T10:16:12Z | |
| dc.date.available | 2020-12-17T10:16:12Z | |
| dc.date.issued | 2020 | |
| dc.description.abstract | Le fonctionnement des composants IGBTs dans les déférents systèmes électronique peut provoquer des défauts qui perturbent le fonctionnement nominal de la tache principale. Le but du travail, proposé dans ce cadre, est la détection et le diagnostic intelligent des défauts, particulièrement le défaut de circuit-ouvert dans les composants IGBTs utilisé dans les équipements électronique, cette détection permet d’envisager des actions correctives pour que le système retourne à son chemine correct. | en_US |
| dc.description.sponsorship | Mr.TABBAKH Mostefa | en_US |
| dc.identifier.other | EL/ESEM015/20 | |
| dc.identifier.uri | http://dspace.univ-msila.dz:8080//xmlui/handle/123456789/22339 | |
| dc.language.iso | fr | en_US |
| dc.publisher | Univ M'sila | en_US |
| dc.subject | Diagnostic, diagnostic intelligent, défaut circuit ouvert, IGBT, filtre active parallèle, logique floue. | en_US |
| dc.title | Diagnostic intelligente d’un Filtre Actif Parallèle pour un défaut circuit ouverte d’IGBT | en_US |
| dc.type | Thesis | en_US |